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半導體性能測試數字源表SMU源表
半導體性能測試數字源表SMU源表認準普賽斯儀表，普賽斯儀表推出更高精度、更大直流的SXXB系列高精度數字源表，相比于傳統S系列源表，準確度提升至±0.03%，直流電流升級至3A，可為半導體行業提供更加精準、穩定的測
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2025-09-28 |
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霍爾延時響應測試系統電流傳感器測試設備
產品簡介 霍爾延時響應測試系統電流傳感器測試設備集多種測量和分析功能一體，可精準測量各種電流傳感器（霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等）的靜態與動態參數，單臺大電流源電流可高達1000A。該系統可測量不
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2025-09-28 |
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1200V+100A半導體參數分析儀CV+IV掃描儀
概述： SPA-6100型1200V+100A半導體參數分析儀CV+IV掃描儀是武漢普賽斯自主研發、精益打造的一款半導體電學特性測試系統，具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優勢。產品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電
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2025-09-28 |
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3500V功率器件靜態參數測試設備
普賽斯3500V功率器件靜態參數測試設備,集多種測量和分析功能一體,可以精準測量IGBT功率半導體器件的靜態參數,具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結電容,如
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2025-09-28 |
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高壓程控電源3500V高壓源
高壓程控電源3500V高壓源特點和優勢： 十ms級的上升沿和下降沿； 單臺z大3500V的輸出； 0.1%測試精度； 同步電流或電壓測量； 支持程控恒壓測流，恒流測壓，便于掃描測試；詳詢一八一四零六六三四七六；技術指標 電
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2025-09-28 |
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半導體分立器件靜態測試設備PMST-3500V
普賽斯半導體分立器件靜態測試設備PMST-3500V,集多種測量和分析功能一體,可以精準測量IGBT功率半導體器件的靜態參數,具有高電壓和大電流特性、uQ級精確測量、nA級電流測量能力等特點。支持高壓模式下測量功率器件結
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2025-09-28 |
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E系列功率器件功能高壓測試模塊
普賽斯儀表專業研究和開發半導體材料與器件測試的專業智能裝備，產品覆蓋半導體領域從晶圓到器件生產全產業鏈。推出基于高精度數字源表(SMU）的第三代半導體功率器件靜態參數測試方案，為SiC和GaN器件提供可靠的測試
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2025-09-28 |
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鈣鈦礦太陽能電池MPPT并行老化測試插卡式源表
目前，鈣鈦礦太陽能電池的效率正在不斷提高，但是鈣鈦礦材料本身的穩定性嚴重影響了其商業化的進程。根據國際規定的光伏組件老化測試標準（IEC61646,2008），光伏器件必須可以在85%濕度和85 ℃溫度的條件下連續工作1
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2025-09-28 |
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